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產(chǎn)品信息

產(chǎn)品名稱:CSK-ⅢA
產(chǎn)品型號(hào):CSK-ⅢA(DAC)曲線制作試塊
生產(chǎn)廠商:深圳華清儀器儀表有限公司
產(chǎn)品數(shù)量:260
產(chǎn)品單價(jià):電議

深圳華清儀器儀表一直致力于無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的銷售和服務(wù)工作,無(wú)損檢測(cè)設(shè)備和配件應(yīng)有盡有,詳細(xì)情況請(qǐng)來(lái)電咨詢,13530869090   13684941024   13554848522

CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA超聲波試塊的產(chǎn)品說(shuō)明信息可能還不夠細(xì)致和全面,如果您需要更詳細(xì)了解探傷試塊的相關(guān)信息或索取相關(guān)資料,歡迎隨時(shí)與我聯(lián)系!聯(lián)系人:張清林  聯(lián)系電話:0755-28199550
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA超聲波試塊
CSK系列超聲波試塊
CSK系列超聲波試塊廣泛用于電力、石化、機(jī)械等行業(yè)的無(wú)損檢測(cè)
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊,同時(shí)供應(yīng)CSK-IA試塊支架,CSK-IIIA試塊翻轉(zhuǎn)架、CSK-IB試塊支架。
(1):CSK-IA是我國(guó)鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)焊縫超聲波探傷JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊,是基于IIW試塊改進(jìn)得到的。
①、臺(tái)階孔?50、?44、?40,便于測(cè)定橫波斜探頭的分辨力;
②、R100、R50階梯圓弧,便于調(diào)整橫波掃描速度和探測(cè)范圍;
③、的折射角開(kāi)為K值(K=tgβ),可直接測(cè)出橫波斜探頭的K值。
(2):CSK-IIA是行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊,CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫。
(3)CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號(hào):CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國(guó)標(biāo)):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥<0.05
(‖) :‖<0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
V-1荷蘭試塊 的詳細(xì)介紹
V-1荷蘭試塊
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊 IS02400-1972E
IIW試塊(V-1試塊)也叫荷蘭試塊。是由國(guó)際焊接學(xué)會(huì)(IIW)通過(guò),國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)使用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊。材質(zhì):不銹鋼、鋁合金
使用要點(diǎn):
1、 利用試塊厚25mm可測(cè)定探傷儀的動(dòng)態(tài)范圍、水平線性及調(diào)整縱波探測(cè)范圍
2、 利用Φ50和圓弧和Φ1.5通孔測(cè)定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量;還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測(cè)定儀器與探頭組合后的穿透能力
3、 利用R100mm圓弧面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū),并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn)。
4、 利用測(cè)距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測(cè)定直探頭的縱向分辨力
5、 利用試塊的直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束偏斜角
RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊,分別適合8-25、8-100和8-150mm的板厚,其標(biāo)準(zhǔn)反射體為Φ3mm×40mm的橫通孔
RB-1、RB-2、RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊 主要用途:
1、 繪制距離—波幅曲線
2、 調(diào)整探測(cè)范圍和掃描速度
3、 測(cè)定斜探頭的K值
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試探頭折射角的刻度面。主要用途:
1.利用R100曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度
2.利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角
3.利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況
4.利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍
5.利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度
6.利用R50和100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度
7.利用Φ50、44和40三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力
試塊支架用來(lái)支撐試塊,以避免其受到外界損壞。
試塊 CSK-IA
試塊 CSK-IIA
試塊 CSK-IIIA
試塊支架 CSK-IA
試塊翻轉(zhuǎn)架 CSK-IIIA
試塊 CSK-IVA
試塊 CSK-IB
試塊支架 CSK-IB
試塊 RB-1
試塊 RB-2
試塊翻轉(zhuǎn)架 RB-2
試塊 RB-3
試塊翻轉(zhuǎn)架 RB-3
荷蘭試塊V-1 V-1(IIW1)
試塊支架 V-1
牛角試塊 V-2(IIW2)
板厚≤20㎜雙晶直探頭試塊
板厚>20㎜單直探頭試塊 1#--4#
5#--6#
縱波直探頭試塊 1#--2#
3#--4#
縱波雙晶直探頭試塊
試塊 SD-I
試塊 SD-IIa、b
試塊 SD-III
試塊 SD-IV
小徑管試塊 DL-1
螺栓試塊 LS-1
螺栓試塊 LS-2
螺栓探頭 5p7×12 4°
螺栓探頭 5p9×9 4°
螺栓探頭 5p13×13 4°
螺栓探頭 5p8×12 k1.7
螺栓探頭 2.5p8×12 k1.7
試塊 TP-1
試塊 TP-2
試塊 TP-3
半圓試塊 SH-1
靈敏度試塊 CS-1
護(hù)環(huán)試塊 A
石油標(biāo)準(zhǔn)試塊 SGB 1?!?#
試塊 RB-T
試塊 RB-Z
階梯試塊(射線)
鋼網(wǎng)架試塊 CSK-1C
鋼網(wǎng)架試塊 RBJ-1
鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T 11345-89
CSK-1B
CSK-IB 試塊支架
RB-1
RB-2
RB-2翻轉(zhuǎn)架
RB-3
RB-3翻轉(zhuǎn)架
雙晶直探頭試塊 板厚≤20mm
單晶直探頭試塊 板厚 〉21mm 試塊附件
縱波直探頭試塊 鋼翻轉(zhuǎn)支架 適用CSK-ⅢA
曲面鋼板試塊 適用RB-3
復(fù)合鋼板試塊 小徑管底座 DL-1
奧氏體鋼鍛件試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-ⅠA
CSK-ⅡA
CSK-ⅢA
CSK-ⅣA
對(duì)比試塊 T1
T2
T3
鋁合金試塊
測(cè)厚試塊

 

詢價(jià)對(duì)象*

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