涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應(yīng)LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀
可定制帶系統(tǒng)的涂層測(cè)厚 |
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涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP2042 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。 |
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應(yīng)LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀 |
儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言,以滿足客戶的各種需求。 涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應(yīng)LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,電池壽命長(zhǎng),可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。 彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。 | |  |
| 隨機(jī)附送儀器箱 (儀器的舉例) |
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應(yīng)LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應(yīng)LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀
 | |  | 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm 有背景燈 |  | 校準(zhǔn)選項(xiàng) | 出廠時(shí)已校準(zhǔn),立即可用 | 在未知涂層上校準(zhǔn)* | 零校準(zhǔn)* | 在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)* | 在有涂層的基體上校準(zhǔn)* | | 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中,也可以隨時(shí)調(diào)出 | |  | 可選擇的顯示模式,以佳形式去完成測(cè)量任務(wù)* |  | 輸入和極限監(jiān)視* |  | 在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理* |  | 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport |  | 統(tǒng)計(jì)* | |  | 可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù) |  | 小值、大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視 |  | 局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808) |  | 在線統(tǒng)計(jì),所有統(tǒng)計(jì)值概括 | | |
LEPTOSKOP2042 帶有45°微型探頭 | | * 取決于配置級(jí)別 |
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3種配置級(jí)別以更好的完成測(cè)量人任務(wù) |
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LEPTOSKOP2042 有3種配置級(jí)別 |
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 | 基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征 |
 | 高級(jí)型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估 |
 | 型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ) |
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如果針對(duì)新的測(cè)量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為高級(jí)型和/或型。升級(jí)只需在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼,“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”,便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購(gòu)買(mǎi)新機(jī)器。 這里有操作指南和制定模塊的參考說(shuō)明。 | |  |
| 通過(guò)解鎖代碼可以很方便的升級(jí) (證書(shū)舉例) |
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選擇菜單項(xiàng)目(例如:語(yǔ)言清單) |
 | | A | 語(yǔ)言清單 | B | 卷軸條作為導(dǎo)航輔助 | |
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清晰的統(tǒng)計(jì)讀數(shù)值和當(dāng)前測(cè)量值 |
 | | C | 基體 | D | 當(dāng)前測(cè)量值 | E | “可以測(cè)量”提示 | F | 單位 | G | 小值和大值 | H | 標(biāo)準(zhǔn)偏離 | I | 平均值 | K | 測(cè)量值數(shù)量 | |
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電腦讀數(shù)也被存儲(chǔ)在目錄和文件中 |
 | | L | 顯示讀數(shù)的文件符號(hào) | M | 可自由選擇的文件名 | N | 卷軸條作為導(dǎo)航輔助 | |
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多樣的探頭 |
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多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測(cè)量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求,我們也可以訂做特殊探頭。 |
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| 探頭類(lèi)型 | 測(cè)量方法 | 測(cè)量范圍 | 訂貨號(hào) |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測(cè)量的地方 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.100 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe 0?/font> | NFe | 0 - 1000 祄 | 2442.130 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe S 0?/font> | NFe | 0 - 3750 祄 | 2442.140 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe S 0?br>用于測(cè)量表面有寬闊的涂層厚度 | Fe | 0.5 - 20 mm | 2442.120 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe 90?br>用于測(cè)量難接近的部位,例如:管子的內(nèi)部 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.110 |
 | 雙晶探頭用于測(cè)量表面有寬闊的涂層例如:管子的內(nèi)部涂層. | Fe | 0.5 - 12.5 mm | 2442.200 |
 | 微型探頭0?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位例如:鉆孔的底部 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.300 2442.310 |
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 | 微型探頭 45?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.320 2442.330 |
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 | 微型探頭 90?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位例如:管子的內(nèi)壁和鉆孔 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.340 2442.350 |
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注:點(diǎn)擊單獨(dú)的探頭圖片,可以得到更多詳細(xì)信息 | | | | |
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涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應(yīng)LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀技術(shù)資料 |
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 | 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB |
 | 電源:電池、充電電池、USB或外接電源 |
 | 測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭) |
 | 測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值 |
 | 存儲(chǔ): 多 9999 個(gè)數(shù)值,140個(gè)文件 |
 | 誤差: 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準(zhǔn)后) 涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄 涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄 |
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 | 試塊和膜片 |
 | 探頭定位裝置 (適用于微型探頭) |
 | 定位輔助裝置 (適用于微型探頭) |
 | 電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理 |
 | 電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的杜說(shuō)或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里 |
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