涂層測厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
| 可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚 |
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| 涂層測厚儀LEPTOSKOP2042 利用磁感應法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。 |
| 涂層測厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀 |
| 儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。
涂層測厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經濟的產品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。 | |  |
| | 隨機附送儀器箱
（儀器的舉例） |
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
涂層測厚儀LEPTOSKOP2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP2042涂層測厚儀
|  | | |  | 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm 有背景燈 | |  | 校準選項 | |  出廠時已校準，立即可用 | |  在未知涂層上校準* | |  零校準* | |  在無涂層的基體上一點和多點校準* | |  在有涂層的基體上校準* | | | | 校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中，也可以隨時調出 | | | |  | 可選擇的顯示模式，以佳形式去完成測量任務* | |  | 輸入和極限監(jiān)視* | |  | 在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理* | |  | 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport | |  | 統(tǒng)計* | | | |  | 可統(tǒng)計評估999個讀數(shù) | |  | 小值、大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視 | |  | 局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808） | |  | 在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值概括 | | |
| LEPTOSKOP2042 帶有45°微型探頭 | | * 取決于配置級別 |
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|  3種配置級別以更好的完成測量人任務 |
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| LEPTOSKOP2042 有3種配置級別 |
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|  | 基本型 – 證明質量的基本特征 |
|  | 高級型 - 附加統(tǒng)計評估 |
|  | 型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲 |
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| 如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。 這里有操作指南和制定模塊的參考說明。 | |  |
| | 通過解鎖代碼可以很方便的升級
（證書舉例） |
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涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
| 選擇菜單項目（例如：語言清單） |
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| 清晰的統(tǒng)計讀數(shù)值和當前測量值 |
|  | | | C | 基體 | | D | 當前測量值 | | E | “可以測量”提示 | | F | 單位 | | G | 小值和大值 | | H | 標準偏離 | | I | 平均值 | | K | 測量值數(shù)量 | |
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| 電腦讀數(shù)也被存儲在目錄和文件中 |
|  | | | L | 顯示讀數(shù)的文件符號 | | M | 可自由選擇的文件名 | | N | 卷軸條作為導航輔助 | |
| 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀 | | |
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|  多樣的探頭 |
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| 多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。 |
| 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀 |
| | 探頭類型 | 測量方法 | 測量范圍 | 訂貨號 |
|  | 標準探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.100 |
|  | 標準探頭 NFe 0?/font> | NFe | 0 - 1000 祄 | 2442.130 |
|  | 標準探頭 NFe S 0?/font> | NFe | 0 - 3750 祄 | 2442.140 |
|  | 標準探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度 | Fe | 0.5 - 20 mm | 2442.120 |
|  | 標準探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位，例如：管子的內部 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.110 |
|  | 雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如：管子的內部涂層. | Fe | 0.5 - 12.5 mm | 2442.200 |
|  | 微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.300
2442.310 |
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|  | 微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.320
2442.330 |
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|  | 微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內壁和鉆孔 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.340
2442.350 |
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| 注：點擊單獨的探頭圖片，可以得到更多詳細信息 | | | | |
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|  涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀技術資料 |
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涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
|  | 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB |
|  | 電源：電池、充電電池、USB或外接電源 |
|  | 測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭) |
|  | 測量速度: 每秒測量２個數(shù)值 |
|  | 存儲: 多 9999 個數(shù)值，140個文件 |
|  | 誤差:
涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準后)
涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄
涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄
涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄 |
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
|  | 試塊和膜片 |
|  | 探頭定位裝置 (適用于微型探頭) |
|  | 定位輔助裝置 (適用于微型探頭) |
|  | 電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結構的便捷管理 |
|  | 電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里 |
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042|深圳華清儀器供應LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀銷售熱線：0755-28199550 13530869090 13684941024 13554848522 QQ：540214533 1163083232 812222693
特點概述
舉例：儀器上的用戶界面圖像
附件
