美國GE B2S，華清現(xiàn)貨有超聲波探傷儀，測厚儀，磁粉探傷儀，探頭，探頭線，黑油磁懸液，反差增強(qiáng)劑等等
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點(diǎn)
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評(píng)判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用
用于高溫檢測時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
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系列
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型號(hào)
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頻率
(MHZ)
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接口方向
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帶寬
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晶片直徑
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接口類型
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保護(hù)膜
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BS
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B1S-EN
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1
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側(cè)裝
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25
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24mm
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Lemo 01
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ES45
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B1S
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1
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B2S
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2
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B2.25SE
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2.25
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B4S
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4
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B5S
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5
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B1S-O
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1
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頂裝
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B2S-O
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2
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B4S-O
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4
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B5S-O
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5
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MB..S系列
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A=20mm
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B=43mm
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C=25mm
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D=15mm
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系列
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型號(hào)
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頻率(MHZ)
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接口方向
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帶寬
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晶片直徑
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接口類型
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保護(hù)膜
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MBS
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MB1S
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1
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側(cè)裝
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25
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10mm
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Lemo 00
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ES24
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MB2S
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2
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MB2S-EN
|
2
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MB4S
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4
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MB4S-EN
|
4
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MB5S
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5
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MB6S
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6
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MB2S-O
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2
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頂裝
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MB4S-O
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4
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MB5S-O
|
5
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