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產(chǎn)品信息
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- 2.5Z8×12LA45
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2.5Z8×12LA45/汕SIUI 2.5Z8×12LA45縱波斜探頭|深圳華清儀器儀表有限公司大量現(xiàn)貨，優(yōu)惠價供應
SIUI向用戶提供過500種以上的工業(yè)超聲探頭產(chǎn)品，包括直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚焦探頭、可變角度探頭等多個系列，滿足各種探傷應用。除常規(guī)型號探頭外，各系列均可按客戶特殊需求進行定制。
使用高性能的壓電復合材料，聲納超聲波探傷儀，在提升靈敏度的同時也帶來更好的信噪比。在各種粗晶及纖維結構等高衰減比傳統(tǒng)壓電晶片探頭擁有更高的穿透力，超聲波探傷儀英文，脈沖寬度更短使得 縱向分辨率更高，模擬式超聲波探傷儀，在各種情況下都可以獲得比傳統(tǒng)探頭更高的頻帶寬度（高情況下可以達到120%以上），相控陣超聲波探傷儀，與低聲阻抗材料的匹配也更佳，手持式高亮超聲波探傷儀，便于與各種楔塊材料 及水相匹配。
以此復合材料為基礎，全數(shù)字智能超聲波探傷儀，我們提供各種水浸探頭，汕CTS數(shù)字超聲波探傷儀，延遲塊探頭，汕，單雙晶直探頭、斜探頭等，濟南 超聲波探傷儀，在產(chǎn)型號的頻率范圍覆蓋0.5MHz到15MHz，相控陣成像超聲波探傷儀，并接受更高頻率探頭的特殊定制。
SIUI是汕頭市超聲儀器研究所有限公司的
部位于廣東省汕頭經(jīng)濟特區(qū)的汕頭市超聲儀器研究所有限公司（SIUI）作為汕頭超聲儀器研究所改制成立的股份制企業(yè)，創(chuàng)建三十多年來，始終致力于人類健康與安全事業(yè)的創(chuàng)新發(fā)展，堅定不移地專注于醫(yī)學影像系統(tǒng)及工業(yè)檢測設備的研發(fā)和制造，在各領域取重大突破，穩(wěn)定快速發(fā)展。
，SIUI已成為世界、集醫(yī)學超聲顯像診斷系統(tǒng)、醫(yī)用X射線影像系統(tǒng)、工業(yè)檢測設備的研發(fā)、制造和銷售于一體的重點高新技術企業(yè)。的技術、的設備、精湛的工藝、的產(chǎn)品、完善的服務，令SIUI贏得了廣大業(yè)界人士的高度信賴。
作為民族高科技企業(yè)的佼佼者，SIUI多年來一直堅持以過銷售收入的10%的資金投入技術創(chuàng)新工作，取得多項高科技成果，并實現(xiàn)產(chǎn)品化，使SIUI的產(chǎn)品在國內同行中。
企業(yè)改制，是SIUI再次騰飛的開始。SIUI將立足超聲，實現(xiàn)在醫(yī)學影像系統(tǒng)和工業(yè)檢測設備領域的多元化發(fā)展，形成國際化的技術開發(fā)中心、資本運作中心、物流中心和本土化制造中心，建成國際化的大型集團公司。
探頭名稱：橫波斜探頭
探頭規(guī)格：2.5Z13×13 K1、2.5Z13×13 K2、2.5Z13×13 K2.5、2.5Z13×13 K3
探頭接口：Q9-Q9
超聲波探傷儀探頭的主要作用：一是將返回來的聲波轉換成電脈沖；二是控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度,當改變探頭入射角或改變超聲波的擴散角時,可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質內部或改變聲波的指向性,提高分辨率；三是實現(xiàn)波形轉換；四是控制工作頻率,適用于不同的工作條件。
斜探頭K值與角度的對應關系
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編號 |
K值 |
對應角度 |
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1 |
K1 |
對應45度 |
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2 |
K1.5 |
對應56.3度 |
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3 |
K2 |
對應63.4度 |
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4 |
K2.5 |
對應68.2度 |
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5 |
K3 |
對應71.6度 |
焊縫探傷超聲波探頭的選擇方案
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編號 |
被測工件厚度 |
選擇探頭和斜率 |
選擇探頭和斜率 |
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1 |
4—5mm |
6×6 K3 |
不銹鋼：1.25MHz 鑄鐵：0.5—2.5 MHz 普通鋼：5MHz |
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2 |
6—8mm |
8×8 K3 |
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3 |
9—10mm |
9×9 K3 |
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4 |
11—12mm |
9×9 K2.5 |
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5 |
13—16 mm |
9×9 K2 |
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6 |
17—25 mm |
13×13 K2 |
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7 |
26—30 mm |
13×13 K2.5 |
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8 |
31—46 mm |
13×13 K1.5 |
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9 |
47—120 mm |
13×13( K2—K1) |
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10 |
121—400 mm |
18×18 ( K2—K1) 20×20 ( K2—K1) |
測厚探頭
雙晶縱波探頭，配套超聲波測厚儀，用于材料厚度值的測量。鋁合金外殼、不銹鋼內套、有機玻璃延遲塊，連接到探頭線的兩個接口為 C5插座。
測厚探頭簡介：
| 測厚儀分割式直探頭 | 2Z12FG-H |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z6FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z8FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HC |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-GH |
| 測厚儀分割式直探頭 | 7.5Z6FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 2Z12FG-HL00 |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HJL00 |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-GHL00 |
| 測厚儀分割式直探頭 | 7.5Z6FG-HL00 |
測厚探頭應用領域：
雙晶縱波探頭，配套超聲波測厚儀，用于材料厚度值的測量。鋁合金外殼、不銹鋼內套、有機玻璃延遲塊，連接到探頭線的兩個接口為 C5插座。
測厚探頭型號規(guī)格：
| 測厚儀分割式直探頭 | 2Z12FG-H |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z6FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z8FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HC |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-GH |
| 測厚儀分割式直探頭 | 7.5Z6FG-HX |
| 測厚儀分割式直探頭 | 2Z12FG-HL00 |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HJL00 |
| 測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-GHL00 |
| 測厚儀分割式直探頭 | 7.5Z6FG-HL00 |
DZ-1超聲波試塊 直探頭盲區(qū)標準試塊 NB/T-2015超聲波標準試塊”參數(shù)說明
| 型號： | DZ-1 | 規(guī)格： | NB/T47013-2015標準 |
| 商標： | 東岳 | 包裝： | 原裝 |
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名稱 |
型號 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z8×12LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z8×12LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z8×12LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z10×10LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z10×10LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z10×10LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z14×14LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z14×14LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2Z14×14LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z8×12LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z8×12LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z8×12LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z10×10LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z10×10LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z10×10LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z14×14LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z14×14LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
2.5Z14×14LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z8×12LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z8×12LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z8×12LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z10×10LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z10×10LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z10×10LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z14×14LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z14×14LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
4Z14×14LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z8×12LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z8×12LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z8×12LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z10×10LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z10×10LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z10×10LA70 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z14×14LA45 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z14×14LA60 |
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縱波斜探頭（折射角） |
5Z14×14LA70 |
“DZ-1超聲波試塊 直探頭盲區(qū)標準試塊 NB/T-2015超聲波標準試塊”詳細介紹
單晶斜探頭
進行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。斜探頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成。超聲波的發(fā)射/接收由壓電晶片完成；斜塊的作用是實現(xiàn)波型的轉換，當入射角（á）在臨界角和第二臨界角之間時，根據(jù)超聲波在不同聲阻抗界面的折射定律，工件中只有橫波的存在；聲材料用來吸收晶片背面、斜塊四周發(fā)散的噪聲；外殼起到支撐、保護、電磁屏蔽等作用；插座為電信號接口，通過探頭線連接到儀器。
斜探頭的聲束與探頭表面傾斜，因此可用于檢測直聲束無法到達的部位、或者缺陷的方向與檢測面之間存在夾角的區(qū)域。進行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。斜探頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成。斜探頭折射角的大小通過K 值來標明。在探頭的型號上標明檢測鋼工件時的K 值，K=tg(Θ)，即折射角度的正切值。常用的K 有0.8、1.0、1.5、2.0、2.5、3.0 等幾種。采用K 值標稱探頭，缺陷的定位計算比較方便。
單晶斜探頭簡介：
進行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。斜探頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成。
單晶斜探頭功能特點：
超聲波的發(fā)射/接收由壓電晶片完成。
斜塊的作用是實現(xiàn)波型的轉換，當入射角（α）在臨界角和第二臨界角之間時，根據(jù)超聲波在不同聲阻抗界面的折射定律，工件中只有橫波的存在。
吸聲材料用來吸收晶片背面、斜塊四周發(fā)散的噪聲。
外殼起到支撐、保護、電磁屏蔽等作用。
插座為電信號接口，通過探頭線連接到儀器。
斜探頭折射角的大小通過 K值來標明。
斜探頭的聲束與探頭表面傾斜，因此可用于檢測直聲束無法到達的部位、或者缺陷的方向與檢測面之間存在夾角的區(qū)域。
單晶斜探頭型號規(guī)格：
斜探頭（大尺寸晶片
）
